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文献
J-GLOBAL ID：200902142493943260
整理番号：01A1066348
銅めっき法とX線解析マイクロスコピーの組合せによるSi(Li)検出器の評価
Evaluation of Si(Li) Detectors by a Combination of the Copper Plating Method and X-Ray Analytical Microscopy.
KUME H
(National Inst. Environmental Studies, Tsukuba, JPN)
,
ONABE H
(Raytech Co., Ltd., Utsunomiya, JPN)
,
OBINATA M
(Tohnic Co., Ltd., Chigasaki, JPN)
,
KASHIWAGI T
(Kanagawa Univ., Yokohama, JPN)
資料名：
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 48 号： 4,Pt.1 ページ： 1012-1015 発行年： 2001年08月
JST資料番号： C0235A ISSN： 0018-9499 CODEN： IETNAE 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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