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文献
J-GLOBAL ID：200902142524838401
整理番号：99A0333472
応力誘起漏れ電流の非弾性トンネリングの実験的証拠
Experimental Evidence of Inelastic Tunneling in Stress-Induced Leakage Current.
TAKAGI S
(Toshiba Corp., Yokohama, JPN)
,
YASUDA N
(Toshiba Corp., Yokohama, JPN)
,
TORIUMI A
(Toshiba Corp., Yokohama, JPN)
資料名：
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻： 46 号： 2 ページ： 335-341 発行年： 1999年02月
JST資料番号： C0222A ISSN： 0018-9383 CODEN： IETDAI 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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