文献
J-GLOBAL ID:200902142982940460
整理番号:02A0209331
走査顕微方式4点導電度プローブ
Scanning microscopic four-point conductivity probes.
著者 (7件):
PETERSEN C L
(Technical Univ. Denmark, Lyngby, DNK)
,
HANSEN T M
(Technical Univ. Denmark, Lyngby, DNK)
,
BOGGILD P
(Technical Univ. Denmark, Lyngby, DNK)
,
BOISEN A
(Technical Univ. Denmark, Lyngby, DNK)
,
HANSEN O
(Technical Univ. Denmark, Lyngby, DNK)
,
HASSENKAM T
(Univ. Copenhagen, DNK)
,
GREY F
(Technical Univ. Denmark, Lyngby, DNK)
資料名:
Sensors and Actuators. A. Physical
(Sensors and Actuators. A. Physical)
巻:
A96
号:
1
ページ:
53-58
発行年:
2002年01月31日
JST資料番号:
B0345C
ISSN:
0924-4247
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)