文献
J-GLOBAL ID:200902143847126830
整理番号:99A0723837
原子間力顕微鏡のカンチレバー振動による直接のナノメータスケールパターニング
Direct nanometer-scale patterning by the cantilever oscillation of an atomic force microscope.
著者 (6件):
HYON C K
(Korea Univ., Seoul, KOR)
,
CHOI S C
(Korea Univ., Seoul, KOR)
,
HWANG S W
(Univ. Seoul, Seoul, KOR)
,
AHN D
(Univ. Seoul, Seoul, KOR)
,
KIM Y
(Korea Inst. Sci. and Technol., Seoul, KOR)
,
KIM E K
(Korea Inst. Sci. and Technol., Seoul, KOR)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
75
号:
2
ページ:
292-294
発行年:
1999年07月12日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)