文献
J-GLOBAL ID:200902145150558921
整理番号:93A0853539
サブミクロンおよび極微結晶構造における空隙生長関連の試験
An examination of the implications of void growth in submicrometer and nanocrystalline structures.
著者 (2件):
MA Y
(Univ. Southern California, CA, USA)
,
LANGDON T G
(Univ. Southern California, CA, USA)
資料名:
Materials Science & Engineering. A. Structural Materials: Properties, Microstructure and Processing
(Materials Science & Engineering. A. Structural Materials: Properties, Microstructure and Processing)
巻:
168
号:
2
ページ:
225-230
発行年:
1993年08月31日
JST資料番号:
D0589B
ISSN:
0921-5093
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)