文献
J-GLOBAL ID:200902145859344399
整理番号:97A0994471
バルク材料の走査型電子顕微鏡法における電子回折ベース技術
Electron Diffraction Based Techniques in Scanning Electron Microscopy of Bulk Materials.
著者 (2件):
WILKINSON A J
(Univ. Oxford, Oxford, GBR)
,
HIRSCH P B
(Univ. Oxford, Oxford, GBR)
資料名:
Micron
(Micron)
巻:
28
号:
4
ページ:
279-308
発行年:
1997年08月
JST資料番号:
E0318E
ISSN:
0968-4328
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)