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文献
J-GLOBAL ID：200902146341788907
整理番号：99A0440700
走査型トンネル顕微鏡法 電界電子放出研究への応用
tunnelling microscopy: application to field electron emission studies.
FROLOV V D
(General Physics Inst., Moscow, RUS)
,
KARABUTOV A V
(General Physics Inst., Moscow, RUS)
,
KONOV V I
(General Physics Inst., Moscow, RUS)
,
PIMENOV S M
(General Physics Inst., Moscow, RUS)
,
PROKHOROV A M
(General Physics Inst., Moscow, RUS)
資料名：
Journal of Physics. D. Applied Physics
(Journal of Physics. D. Applied Physics)
巻： 32 号： 7 ページ： 815-819 発行年： 1999年04月07日
JST資料番号： B0092B ISSN： 0022-3727 CODEN： JPAPBE 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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