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文献
J-GLOBAL ID：200902146896309770
整理番号：98A0104937
フレキシブル薄膜埋込抵抗の信頼性と薄膜埋込キャパシタ,インダクタの電気的評価
Reliability of Flexible Thin-Film Embedded Resistors and Electrical Characterization of Thin-Film Embedded Capacitors and Inductors.
FAIRCHILD K
(Univ. Arkansas, AR)
,
MORCAN G
(Univ. Arkansas, AR)
,
LENIHAN T
(Sheldahl Corp., MN)
,
BROWN W
(Univ. Arkansas, AR)
,
SCHAPER L
(Univ. Arkansas, AR)
,
ANG S
(Univ. Arkansas, AR)
,
SOMMERS W
(Univ. Arkansas, AR)
,
PARKERSON J
(Univ. Arkansas, AR)
,
GLOVER M
(Univ. Arkansas, AR)
資料名：
Proceedings. Electronic Components & Technology Conference
(Proceedings. Electronic Components & Technology Conference)
巻： 47th ページ： 730-738 発行年： 1997年
JST資料番号： H0393A ISSN： 0569-5503 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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