文献
J-GLOBAL ID:200902147714028785
整理番号:93A0189424
紙の表面トポグラフのためにトポグラフ走査電子顕微鏡を用いる新しい粗面学の応用
Application of new profilometry using topographic scanning electron microscope to paper surface topography.
著者 (3件):
ENOMAE T
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
ONABE F
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
USUDA M
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
資料名:
TAPPI Journal
(TAPPI Journal)
巻:
76
号:
1
ページ:
85-90
発行年:
1993年01月
JST資料番号:
E0201A
ISSN:
0734-1415
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)