文献
J-GLOBAL ID:200902147856627406
整理番号:94A0083146
Scanning Tunneling Microscopy Study of Epitaxial Silicide Thin Films.
著者 (3件):
VON KAENEL H
(ETH-Hoenggerberg, Zuerich, CHE)
,
SIRRINGHAUS H
(ETH-Hoenggerberg, Zuerich, CHE)
,
STALDER R
(ETH-Hoenggerberg, Zuerich, CHE)
資料名:
Physica Scripta
(Physica Scripta)
巻:
T49B
ページ:
568-573
発行年:
1993年
JST資料番号:
A0454B
ISSN:
0031-8949
CODEN:
PHSTBO
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)