文献
J-GLOBAL ID:200902147871135226
整理番号:93A0749426
Ta2O5膜における過渡電流の測定
Measurement of the current transient in Ta2O5 films.
著者 (3件):
SUNDARAM K
(National Univ. Singapore, Singapore, SGP)
,
CHOI W K
(National Univ. Singapore, Singapore, SGP)
,
LING C H
(National Univ. Singapore, Singapore, SGP)
資料名:
Thin Solid Films
(Thin Solid Films)
巻:
230
号:
2
ページ:
95-98
発行年:
1993年08月10日
JST資料番号:
B0899A
ISSN:
0040-6090
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)