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J-GLOBAL ID：200902147951642986 整理番号：93A0726933

2つの故障タイプをもつ冗長システムの確率解析

Stochastic analysis of a redundant system with two types of failure.

著者 (3件)：

AGNIHOTRI R K

(St. John’s Coll., U.P., IND)

KUMAR V

(St. John’s Coll., U.P., IND)

ANSARI M A

(St. John’s Coll., U.P., IND)

資料名：

Microelectronics Reliability (Microelectronics Reliability)

巻： 33 号： 10 ページ： 1467-1471 発行年： 1993年08月
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

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