文献
J-GLOBAL ID:200902148226964524
整理番号:93A0587724
広い温度範囲におけるCrSi2-Si・Schottky構造のI-V測定の解析
Analysis of I-V measurements on CrSi2-Si Schottky structures in a wide temperature range.
著者 (2件):
BARUS M
(Slovak Technical Univ., Bratislava, CSK)
,
DONOVAL D
(Slovak Technical Univ., Bratislava, CSK)
資料名:
Solid-State Electronics
(Solid-State Electronics)
巻:
36
号:
7
ページ:
969-974
発行年:
1993年07月
JST資料番号:
H0225A
ISSN:
0038-1101
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)