文献
J-GLOBAL ID:200902148242743457
整理番号:01A0341314
蒸着ナノ構造けい素膜を利用する脱離-イオン化質量分析
Desorption-Ionization Mass Spectrometry Using Deposited Nanostructured Silicon Films.
著者 (5件):
CUIFFI J D
(Pennsylvania State Univ., PA, USA)
,
HAYES D J
(Pennsylvania State Univ., PA, USA)
,
FONASH S J
(Pennsylvania State Univ., PA, USA)
,
BROWN K N
(Pennsylvania State Univ., PA, USA)
,
JONES A D
(Pennsylvania State Univ., PA, USA)
資料名:
Analytical Chemistry
(Analytical Chemistry)
巻:
73
号:
6
ページ:
1292-1295
発行年:
2001年03月15日
JST資料番号:
A0395A
ISSN:
0003-2700
CODEN:
ANCHAM
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)