文献
J-GLOBAL ID:200902148888673546
整理番号:94A0949696
吸着ビスマス薄膜における相転移の走査型トンネル顕微鏡観察研究 Bi/Si(111)系
Scanning tunneling microscopy of phase transitions in adsorbed bismuth films: the system Bi/Si (111).
著者 (4件):
BAKHTIZIN R Z
(Bashkir Univ., Ufa)
,
PARK C-Y
(Chonbug National Univ., Chonju, KOR)
,
HASHIZUME T
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
SAKURAI T
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名:
Technical Physics
(Technical Physics)
巻:
39
号:
8
ページ:
806-810
発行年:
1994年08月
JST資料番号:
E0952A
ISSN:
1063-7842
CODEN:
TEPHEX
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)