文献
J-GLOBAL ID:200902148956166445
整理番号:95A0278493
パルスレーザアニーリングとリモートプラズマCVDを用いて低温プロセスで形成した高性能ポリSiTFT
High Performance Poly-Si TFTs Fabricated Using Pulsed Laser Annealing and Remote Plasma CVD with Low Temperature Processing.
著者 (5件):
KOHNO A
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
,
SAMESHIMA T
(Sony Research Center, Yokohama, JPN)
,
SANO N
(Sony Research Center, Yokohama, JPN)
,
SEKIYA M
(Sony Research Center, Yokohama, JPN)
,
HARA M
(Sony Research Center, Yokohama, JPN)
資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻:
42
号:
2
ページ:
251-257
発行年:
1995年02月
JST資料番号:
C0222A
ISSN:
0018-9383
CODEN:
IETDAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)