文献
J-GLOBAL ID:200902149204888197
整理番号:00A0849868
1nmの精度をもつ遠視野蛍光顕微鏡法におけるサブ分解能の軸距離の測定
Subresolution axial distance measurements in far-field fluorescence microscopy with precision of 1 nanometer.
著者 (3件):
SCHMIDT M
(Max-Planck-Inst. Biophysical Chemistry, Goettingen, DEU)
,
NAGORNI M
(Max-Planck-Inst. Biophysical Chemistry, Goettingen, DEU)
,
HELL S W
(Max-Planck-Inst. Biophysical Chemistry, Goettingen, DEU)
資料名:
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻:
71
号:
7
ページ:
2742-2745
発行年:
2000年07月
JST資料番号:
D0517A
ISSN:
0034-6748
CODEN:
RSINAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)