文献
J-GLOBAL ID:200902149463898826
整理番号:02A0058897
透明試料を観測するための10keVのX線位相コントラスト顕微鏡法
10keV X-Ray Phase-Contrast Microscopy for Observing Transparent Specimens.
著者 (7件):
KAGOSHIMA Y
(Himeji Inst. Technol., Hyogo, JPN)
,
IBUKI T
(Himeji Inst. Technol., Hyogo, JPN)
,
YOKOYAMA Y
(Himeji Inst. Technol., Hyogo, JPN)
,
TSUSAKA Y
(Himeji Inst. Technol., Hyogo, JPN)
,
MATSUI J
(Himeji Inst. Technol., Hyogo, JPN)
,
TAKAI K
(Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., Hyogo, JPN)
,
AINO M
(Hyogo Prefectural Agricultural Inst., Hyogo, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters)
巻:
40
号:
11A
ページ:
L1190-L1192
発行年:
2001年11月01日
JST資料番号:
F0599B
ISSN:
0021-4922
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)