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文献
J-GLOBAL ID:200902149481834002   整理番号:00A0641944

Pb(Zr,Ti)O3薄膜の縦圧電係数に及ぼすニオブの効果の評価

Evaluation of niobium effects on the longitudinal piezoelectric coefficients of Pb(Zr,Ti)O3 thin films.
著者 (5件):
HACCART T
(Univ. Valenciennes et du Hainaut-Cambr<span style=text-decoration:overline> ́e</span>sis, Maubeuge, FRA)
CATTAN E
(Univ. Valenciennes et du Hainaut-Cambr<span style=text-decoration:overline> ́e</span>sis, Maubeuge, FRA)
REMIENS D
(Univ. Valenciennes et du Hainaut-Cambr<span style=text-decoration:overline> ́e</span>sis, Maubeuge, FRA)
HIBOUX S
(Ecole Polytechnique F<span style=text-decoration:overline> ́e</span>d<span style=text-decoration:overline> ́e</span>rale de Lausanne(EPFL), Lausanne, CHE)
MURALT P
(Ecole Polytechnique F<span style=text-decoration:overline> ́e</span>d<span style=text-decoration:overline> ́e</span>rale de Lausanne(EPFL), Lausanne, CHE)

資料名:
Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)

巻: 76  号: 22  ページ: 3292-3294  発行年: 2000年05月29日 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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