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文献
J-GLOBAL ID：200902149481834002
整理番号：00A0641944
Pb(Zr,Ti)O3薄膜の縦圧電係数に及ぼすニオブの効果の評価
Evaluation of niobium effects on the longitudinal piezoelectric coefficients of Pb(Zr,Ti)O3 thin films.
HACCART T
(Univ. Valenciennes et du Hainaut-Cambr<span style=text-decoration:overline> ́e</span>sis, Maubeuge, FRA)
,
CATTAN E
(Univ. Valenciennes et du Hainaut-Cambr<span style=text-decoration:overline> ́e</span>sis, Maubeuge, FRA)
,
REMIENS D
(Univ. Valenciennes et du Hainaut-Cambr<span style=text-decoration:overline> ́e</span>sis, Maubeuge, FRA)
,
HIBOUX S
(Ecole Polytechnique F<span style=text-decoration:overline> ́e</span>d<span style=text-decoration:overline> ́e</span>rale de Lausanne(EPFL), Lausanne, CHE)
,
MURALT P
(Ecole Polytechnique F<span style=text-decoration:overline> ́e</span>d<span style=text-decoration:overline> ́e</span>rale de Lausanne(EPFL), Lausanne, CHE)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 76 号： 22 ページ： 3292-3294 発行年： 2000年05月29日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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