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文献
J-GLOBAL ID：200902149971366767
整理番号：94A0419402
偏光子と検光子を同期して回転して行う走査偏光解析装置の設計
Design of a scanning ellipsometer by synchronous rotation of the polarizer and analyzer.
CHEN L-Y
(Fudan Univ., Shanghai, CHN)
,
FENG X-W
(Fudan Univ., Shanghai, CHN)
,
SU Y
(Fudan Univ., Shanghai, CHN)
,
MA H-Z
(Fudan Univ., Shanghai, CHN)
,
QIAN Y-H
(Fudan Univ., Shanghai, CHN)
資料名：
Applied Optics
(Applied Optics)
巻： 33 号： 7 ページ： 1299-1305 発行年： 1994年03月01日
JST資料番号： B0026B ISSN： 1559-128X CODEN： APOPAI 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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