文献
J-GLOBAL ID:200902150565313871
整理番号:93A0800378
Ga0.5In0.5Pの短範囲規則構造の高分解能電子顕微鏡観察
High-Resolution Electron Microscopy of Short-Range Ordered Structure of Ga0.5In0.5P.
著者 (6件):
SHINDO D
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
HIRAGA K
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
IIJIMA S
(NEC Corp., Tsukuba, JPN)
,
KUDOH J
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
NEMOTO Y
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
OIKAWA T
(JEOL Ltd., Tokyo, JPN)
資料名:
Journal of Electron Microscopy
(Journal of Electron Microscopy)
巻:
42
号:
4
ページ:
227-230
発行年:
1993年08月
JST資料番号:
G0104A
ISSN:
0022-0744
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)