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文献
J-GLOBAL ID：200902150650755824
整理番号：93A0505268
VLSI回路の設計への物理的信頼性知識の統合
Integration of physical reliability knowledge into the design of VLSI-circuits.
VAN GEEST D C L
(Twente Univ., Enschede, NLD)
,
HOEKSMA R H
(Twente Univ., Enschede, NLD)
,
BROMBACHER A C
(Philips Consumer Electronics, Eindhoven, NLD)
,
HERRMANN O E
(Twente Univ., Enschede, NLD)
資料名：
Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium
(Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium)
巻： 31st ページ： 81-86 発行年： 1993年
JST資料番号： A0631A ISSN： 1541-7026 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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