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文献
J-GLOBAL ID：200902150669247234
整理番号：02A0059594
表面プラズモン共鳴を用いた薄層の二次元評価法の開発
Development of a Two-Dimensional Evaluation Method for Thin Layers Using Surface Plasmon Resonance.
OTSUKI S
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Osaka)
,
MURAI K
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Osaka)
,
YOSHIKAWA S
(Kyoto Univ., Kyoto)
資料名：
Chemistry Letters
(Chemistry Letters)
号： 12 ページ： 1312-1313 発行年： 2001年12月05日
JST資料番号： S0742A ISSN： 0366-7022 CODEN： CMLTAG 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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