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文献
J-GLOBAL ID：200902151107213457
整理番号：98A0737207
マイクロセルを含むLSIのプローブガイド診断
Test and Diagnosis of VLSI. Guided Probe Diagnosis of LSls Containing Macrocells.
KUJI N
(Nippon Telegraph and Telephone Corp., Atsugi-shi, JPN)
,
TAKEDA T
(Nippon Telegraph and Telephone Corp., Atsugi-shi, JPN)
資料名：
IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
(IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E81-D 号： 7 ページ： 731-737 発行年： 1998年07月
JST資料番号： L1371A ISSN： 0916-8532 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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