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文献
J-GLOBAL ID：200902151199443968
整理番号：93A0763094
干渉計による屈折率分布の高精度測定
An Accurate Measurement of Gradient Index Profile Using an Interferometer.
松崎弘
(オリンパス光学工業)
,
橋本武
(オリンパス光学工業)
,
槌田博文
(オリンパス光学工業)
,
百村和司
(オリンパス光学工業)
,
山本公明
(オリンパス光学工業)
資料名：
光学
(Japanese Journal of Optics)
巻： 22 号： 9 ページ： 568-572 発行年： 1993年09月
JST資料番号： G0125B ISSN： 0389-6625 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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