文献
J-GLOBAL ID:200902151927130807
整理番号:93A0933687
レーザダイオード反射防止膜の反射係数の外部空洞レーザによる精密測定
Accurate Measurement of Reflectivity over Wavelength of a Laser Diode Antireflection Coating using an External Cavity Laser.
著者 (1件):
STOKES L F
(Hewlett-Packard Lightwave Operation, CA)
資料名:
Journal of Lightwave Technology
(Journal of Lightwave Technology)
巻:
11
号:
7
ページ:
1162-1167
発行年:
1993年07月
JST資料番号:
H0922A
ISSN:
0733-8724
CODEN:
JLTEDG
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)