文献
J-GLOBAL ID:200902152013136390
整理番号:98A0552225
経験的定量法に対しての,全反射蛍光X線スペクトルの解析及び痕跡元素の定量のための基本パラメータ法の性能の比較
A comparison of the performance of a fundamental parameter method for analysis of total reflection X-ray fluorescence spectra and determination of trace elements, versus an empirical quantification procedure.
著者 (3件):
WEGRZYNEK D
(Univ. Mining and Metallurgy, Krakow, POL)
,
HOLYNSKA B
(Univ. Mining and Metallurgy, Krakow, POL)
,
OSTACHOWICZ B
(Univ. Mining and Metallurgy, Krakow, POL)
資料名:
Spectrochimica Acta. Part B. Atomic Spectroscopy
(Spectrochimica Acta. Part B. Atomic Spectroscopy)
巻:
53B
号:
1
ページ:
43-48
発行年:
1998年01月23日
JST資料番号:
B0793A
ISSN:
0584-8547
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)