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J-GLOBAL ID：200902152100901583 整理番号：99A0537643

多孔性けい素上の脱着-イオン化質量分析

Desorption-ionization mass spectrometry on porous silicon.

著者 (3件)：

WEI J

(Scripps Res., Inst., California, USA)

BURIAK J M

(Purdue Univ., Indiana, USA)

SIUZDAK G

(Scripps Res., Inst., California, USA)

資料名：

Nature (London) (Nature (London))

巻： 399 号： 6733 ページ： 243-246 発行年： 1999年05月20日
JST資料番号： D0193B ISSN： 0028-0836 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

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