文献
J-GLOBAL ID:200902152128296812
整理番号:93A0331192
走査電子顕微鏡における後方散乱Kikuchi回折によるミクロンスケールの弾性歪の決定
Microscale elastic-strain determination by backscatter Kikuchi diffraction in the scanning electron microscope.
著者 (3件):
TROOST K Z
(Philips Research Lab., Eindhoven, NLD)
,
VAN DER SLUIS P
(Philips Research Lab., Eindhoven, NLD)
,
GRAVESTEIJN D J
(Philips Research Lab., Eindhoven, NLD)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
62
号:
10
ページ:
1110-1112
発行年:
1993年03月08日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)