文献
J-GLOBAL ID:200902152506033701
整理番号:00A0292999
電子照射によりn型シリコンに発生した空格子点-酸素対と水素との相互作用
Interaction of hydrogen with the vacancy-oxygen pair produced in n-type silicon by electron irradiation.
著者 (2件):
TOKUDA Y
(Aichi Inst. Technol., Toyota, JPN)
,
SEKI T
(Aichi Inst. Technol., Toyota, JPN)
資料名:
Semiconductor Science and Technology
(Semiconductor Science and Technology)
巻:
15
号:
2
ページ:
126-129
発行年:
2000年02月
JST資料番号:
E0503B
ISSN:
0268-1242
CODEN:
SSTEET
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)