文献
J-GLOBAL ID:200902152849629758
整理番号:02A0038663
導電性原子間力顕微鏡を用いた分子細線を通るトンネル伝導に関する性能決定
Determination of performance on tunnel conduction through molecular wire using a conductive atomic force microscope.
著者 (7件):
SAKAGUCHI H
(Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN)
,
HIRAI A
(Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN)
,
IWATA F
(Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN)
,
SASAKI A
(Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN)
,
NAGAMURA T
(Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN)
,
KAWATA E
(Saitama Univ., Urawa, JPN)
,
NAKABAYASHI S
(Saitama Univ., Urawa, JPN)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
79
号:
22
ページ:
3708-3710
発行年:
2001年11月26日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)