文献
J-GLOBAL ID:200902153032532333
整理番号:93A0600128
〈110〉投影におけるAlAs/GaAs界面構造の高分解能透過型電子顕微鏡による研究
High-Resolution Transmission Electron Microscopy of AlAs/GaAs Interfacial Structure in the 〈110〉 Projection.
著者 (5件):
IKARASHI N
(NEC Corp., Ibaraki)
,
TANAKA M
(Univ. Tokyo, Tokyo)
,
BABA T
(NEC Corp., Ibaraki)
,
SAKAKI H
(Univ. Tokyo, Tokyo)
,
ISHIDA K
(NEC Corp., Ibaraki)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻:
32
号:
6A
ページ:
2824-2831
発行年:
1993年06月
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)