文献
J-GLOBAL ID:200902153147261120
整理番号:93A0580270
Brillouin散乱によるイオン注入GaP層の研究
Investigation of ion-implanted GaP layers by Brillouin scattering.
著者 (3件):
ZUK J
(Memorial Univ. Newfoundland, Newfoundland, CAN)
,
KIEFTE H
(Memorial Univ. Newfoundland, Newfoundland, CAN)
,
CLOUTER M J
(Memorial Univ. Newfoundland, Newfoundland, CAN)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
73
号:
10 Pt 1
ページ:
4951-4954
発行年:
1993年05月15日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)