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文献
J-GLOBAL ID：200902155839639622
整理番号：93A0994891
Φ試験 試験の応答信号を検証するための完全ハッシュ化索引試験
Φ-Test: Perfect Hashed Index Test for Test Response Validation.
GUPTA R
(General Electric Corporate R&D, NY)
資料名：
Proceedings. IEEE International Conference on Computer Design: VLSI in Computers & Processors
(Proceedings. IEEE International Conference on Computer Design: VLSI in Computers & Processors)
巻： 1993 ページ： 588-591 発行年： 1993年
JST資料番号： D0858B ISSN： 1063-6404 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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