文献
J-GLOBAL ID:200902156315381730
整理番号:93A0897968
注入レベルの関数として電子・正孔対再結合寿命の干渉計式測定
Interferometric Measurement of Electron-Hole Pair Recombination Lifetime as a Function of the Injection Level.
著者 (4件):
BREGLIO G
(Univ. Naples, Napoli, ITA)
,
CUTOLO A
(Univ. Naples, Napoli, ITA)
,
SPIRITO P
(Univ. Naples, Napoli, ITA)
,
ZENI L
(Univ. Naples, Napoli, ITA)
資料名:
IEEE Electron Device Letters
(IEEE Electron Device Letters)
巻:
14
号:
10
ページ:
487-489
発行年:
1993年10月
JST資料番号:
B0344B
ISSN:
0741-3106
CODEN:
EDLEDZ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)