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文献
J-GLOBAL ID:200902156550202931   整理番号:01A0039801

DRAMのフィールドプログラマブル補修用アンチフューズEPROM回路設計

An Antifuse EPROM Circuitry Scheme for Field-Programmable Repair in DRAM.
著者 (7件):
WEE J-K
(Hyundai Electronics Company Ltd., Kyoungki-Do, KOR)
YANG W
(Harvard Univ., MA, USA)
RYOU E-K
(Hyundai Electronics Company Ltd., Kyoungki-Do, KOR)
CHOI J-S
(Hyundai Electronics Company Ltd., Kyoungki-Do, KOR)
AHN S-H
(Hyundai Electronics Company Ltd., Kyoungki-Do, KOR)
CHUNG J-Y
(Hyundai Electronics Company Ltd., Kyoungki-Do, KOR)
KIM S-C
(Hyundai Electronics Company Ltd., Kyoungki-Do, KOR)

資料名:
IEEE Journal of Solid-State Circuits  (IEEE Journal of Solid-State Circuits)

巻: 35  号: 10  ページ: 1408-1414  発行年: 2000年10月 
JST資料番号: B0761A  ISSN: 0018-9200  CODEN: IJSCBC  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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