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文献
J-GLOBAL ID：200902156598957489
整理番号：93A0302500
波長と周波数を組合わせた変調分光学 材料処理のための新しい診断法
Combined wavelength and frequency modulation spectroscopy: a novel diagnostic tool for materials processing.
SUN H C
(Stevens Inst. Technology, New Jersey)
,
WHITTAKER E A
(Stevens Inst. Technology, New Jersey)
,
BAE Y W
(Stevens Inst. Technology, New Jersey)
,
NG C K
(Stevens Inst. Technology, New Jersey)
,
PATEL V
(New Jersey Inst. Technology, New Jersey)
,
TAM W H
(Stevens Inst. Technology, New Jersey)
,
MCGUIRE S
(Stevens Inst. Technology, New Jersey)
,
SINGH B
(David Sarnoff Research Center, New Jersey)
,
GALLOIS B
(Stevens Inst. Technology, New Jersey)
資料名：
Applied Optics
(Applied Optics)
巻： 32 号： 6 ページ： 885-893 発行年： 1993年02月20日
JST資料番号： B0026B ISSN： 1559-128X CODEN： APOPAI 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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