文献
J-GLOBAL ID:200902157903212541
整理番号:94A0313964
p型MOSFETにおけるSiからSiO2への熱いホールの注入確率の測定
Measurement of the Hot Hole Injection Probability from Si into SiO2 in p-MOSFETs.
著者 (4件):
SELMI L
(Univ. Bologna, Bologna, ITA)
,
SANGIORGI E
(Univ. Bologna, Bologna, ITA)
,
BEZ R
(SGS-Thomson Microelectronics, Agrate Brianza, ITA)
,
RICCO B
(Univ. Bologna, Bologna, ITA)
資料名:
Technical Digest. International Electron Devices Meeting
(Technical Digest. International Electron Devices Meeting)
巻:
1993
ページ:
333-336
発行年:
1993年
JST資料番号:
C0829B
ISSN:
0163-1918
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)