文献
J-GLOBAL ID:200902158204975498
整理番号:94A0049794
銀薄膜上のLB膜の全反射減衰法による測定
Attenuated Total Reflection(ATR) Measurements of LB Ultrathin Films on Ag Thin Films.
著者 (6件):
若松孝
(茨城工高専)
,
本多章作
(新潟大)
,
斉木仁
(新潟大)
,
加藤景三
(新潟大)
,
金子双男
(新潟大)
,
小林敏志
(新潟大)
資料名:
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
93
号:
343(OME93 39-45)
ページ:
7-12
発行年:
1993年11月25日
JST資料番号:
S0532B
ISSN:
0913-5685
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)