文献
J-GLOBAL ID:200902159709073134
整理番号:93A0175600
誘電体薄膜の厚さと誘電定数の決定
Thickness and dielectric constant determination of thin dielectric layers.
著者 (4件):
DE BRUIJN H E
(Univ. Twente, Enschede, NLD)
,
MINOR M
(Univ. Twente, Enschede, NLD)
,
KOOYMAN R P H
(Univ. Twente, Enschede, NLD)
,
GREVE J
(Univ. Twente, Enschede, NLD)
資料名:
Optics Communications
(Optics Communications)
巻:
95
号:
4/6
ページ:
183-188
発行年:
1993年01月15日
JST資料番号:
A0678B
ISSN:
0030-4018
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)