文献
J-GLOBAL ID:200902159755609740
整理番号:94A0074783
FFT based troubleshooting of 120dB dynamic range ADC systems.
著者 (2件):
OWNBY D
(Crystal Semiconductor Corp., TX)
,
BOGARD H
(Crystal Semiconductor Corp., TX)
資料名:
Proceedings. International Test Conference
(Proceedings. International Test Conference)
巻:
1993
ページ:
690-696
発行年:
1993年
JST資料番号:
E0211B
ISSN:
1089-3539
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)