文献
J-GLOBAL ID:200902159786532770
整理番号:93A0459279
渦糸の量子化により測定した薄膜ニオブの絶対磁気侵入深さ
Absolute magnetic penetration depth of thin-film niobium measured by fluxoid quantization.
著者 (4件):
CUNNINGHAM C E
(Stanford Univ., California)
,
HUBER M E
(National Inst. Standards and Technology, Colorado)
,
PARK G S
(Stanford Univ., California)
,
CABRERA B
(Stanford Univ., California)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
62
号:
17
ページ:
2122-2124
発行年:
1993年04月26日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)