文献
J-GLOBAL ID:200902159854979710
整理番号:99A0324681
修正BGRモデルをベースとした中性子誘起ソフトエラー率の簡易見積り法
Simple Method for Estimating Neutron-Induced Soft Error Rates Based on Modified BGR Model.
著者 (4件):
TOSAKA Y
(Fujitsu Lab. Ltd., Atsugi, JPN)
,
KANATA H
(Fujitsu Lab. Ltd., Atsugi, JPN)
,
SATOH S
(Fujitsu Lab. Ltd., Atsugi, JPN)
,
ITAKURA T
(Fujitsu Lab. Ltd., Atsugi, JPN)
資料名:
IEEE Electron Device Letters
(IEEE Electron Device Letters)
巻:
20
号:
2
ページ:
89-91
発行年:
1999年02月
JST資料番号:
B0344B
ISSN:
0741-3106
CODEN:
EDLEDZ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)