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文献
J-GLOBAL ID：200902160179799005
整理番号：93A0845507
表面X線回折ロッドの測定に対する装置効果 分解能関数と活性試料面積
Instrumental Effects on Measurements of Surface X-ray Diffraction Rods: Resolution Function and Active Sample Area.
TONEY M F
(IBM Almaden Research Center, CA, USA)
,
WIESLER D G
(National Inst. Standards and Technology, MD, USA)
資料名：
Acta Crystallographica. Section A. Foundations of Crystallography
(Acta Crystallographica. Section A. Foundations of Crystallography)
巻： 49 号： 4 ページ： 624-642 発行年： 1993年07月01日
JST資料番号： A0315B ISSN： 0108-7673 CODEN： ACACEQ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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