文献
J-GLOBAL ID:200902160190689050
整理番号:95A0081827
アラン分散と二乗平均時間間隔誤差測定に及ぼす従属クロック内部雑音の影響
Impact of Slave Clock Internal Noise on Allan Variance and Root Mean Square Time Interval Error Measurements.
著者 (4件):
BREGNI S
(SIRTI S.p.A., Milano, ITA)
,
CARBONELLI M
(Fondazione Ugo Bordoni, Roma, ITA)
,
DE SETA D
(Fondazione Ugo Bordoni, Roma, ITA)
,
PERUCCHINI D
(Fondazione Ugo Bordoni, Roma, ITA)
資料名:
Conference Proceedings. IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference
(Conference Proceedings. IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference)
巻:
1994
号:
Vol 3
ページ:
1411-1414
発行年:
1994年
JST資料番号:
B0689B
ISSN:
1091-5281
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)