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文献
J-GLOBAL ID：200902160283764493
整理番号：94A0039990
多重Laue回折スポットの成分に対する反射強度の評価 II 波長正規化曲線の利用
Evaluation of Reflection Intensities for the Components of Multiple Laue Diffraction Spots. II. Using the Wavelength-Normalization Curve.
CAMPBELL J W
(SERC Daresbury Lab., Cheshire, GBR)
,
HAO Q
(Univ. Liverpool, Liverpool, GBR)
資料名：
Acta Crystallographica. Section A. Foundations of Crystallography
(Acta Crystallographica. Section A. Foundations of Crystallography)
巻： 49 号： 6 ページ： 889-893 発行年： 1993年11月01日
JST資料番号： A0315B ISSN： 0108-7673 CODEN： ACACEQ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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