文献
J-GLOBAL ID:200902160617962801
整理番号:93A0637640
析出物を含むNi3(Al,Ti)およびTiAl化合物における厚さ測定への示差X線吸収法の適用
An application of the differential X-ray absorption method to thickness measurement in precipitate-containing Ni3(Al,Ti) and TiAl compounds.
著者 (4件):
TIAN W H
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
,
HORITA Z
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
,
SANO T
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
,
NEMOTO M
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
資料名:
Philosophical Magazine. B. Physics of Condensed Matter: Statistical Mechanics, Electronic, Optical and Magnetic Properties
(Philosophical Magazine. B. Physics of Condensed Matter: Statistical Mechanics, Electronic, Optical and Magnetic Properties)
巻:
67
号:
6
ページ:
811-822
発行年:
1993年06月
JST資料番号:
H0004B
ISSN:
1364-2812
CODEN:
PMABDJ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)