文献
J-GLOBAL ID:200902160808628898
整理番号:93A0696861
イオンビーム改質試料の価電子帯及び伝導帯の電子分布
Valence and conduction band electronic distributions in ion beam prepared samples.
著者 (3件):
BELIN E
(Lab. Chimie Physique Mati<span style=text-decoration:overline>e`</span>re et Rayonnement, CNRS, Paris, FRA)
,
TRAVERSE A
(IN2P3, CNRS, Orsay, FRA)
,
SONDER A
(Lab. Chimie Physique Mati<span style=text-decoration:overline>e`</span>re et Rayonnement, CNRS, Paris, FRA)
資料名:
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms
(Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻:
80/81
号:
Pt 1
ページ:
80-85
発行年:
1993年06月
JST資料番号:
H0899A
ISSN:
0168-583X
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)