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文献
J-GLOBAL ID：200902161039982647
整理番号：96A1012233
接触角測定とAuger電子分光で調べたふっ酸処理GaAs表面
Hydrofluoric-Treated GaAs Surfaces Analyzed by Contact Angle Measurement and Auger Electron Spectroscopy.
MATSUSHITA K
(Yamagata Univ., Yonezawa, JPN)
,
SUZUKI N
(Yamagata Univ., Yonezawa, JPN)
,
OKUYAMA S
(Yamagata Univ., Yonezawa, JPN)
,
KUMAGAI Y
(Yamagata Univ., Yonezawa, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 35 号： 10 ページ： 5293-5296 発行年： 1996年10月
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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