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文献
J-GLOBAL ID：200902161040716527
整理番号：93A0937259
薄膜の光学定数を決定するための改良された方法と分子ビーム堆積多結晶層へのその応用
Improved method for determining the optical constants of thin films and its application to molecular-beam-deposited polycrystalline layers.
MEREDITH P
(Heriot-Watt Univ., Edinburgh, GBR)
,
BULLER G S
(Heriot-Watt Univ., Edinburgh, GBR)
,
WALKER A C
(Heriot-Watt Univ., Edinburgh, GBR)
資料名：
Applied Optics
(Applied Optics)
巻： 32 号： 28 ページ： 5619-5627 発行年： 1993年10月01日
JST資料番号： B0026B ISSN： 1559-128X CODEN： APOPAI 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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